異物分析FTIR紅外光譜+SEM掃描電鏡

為什么要做異物分析

在工業制品上附著了異物和雜質，在加工過程中混入異物，趙成產品不良，。只有能夠盡快查明原因，研究實施對策，才可以徹底解決問題。但是，連異物是什么都無法了解。

這個時候，主要從兩個方向進行假設，一是異物為有機物用顯微紅外光譜儀器進行分析，另外假設異物為無機物用掃描電鏡和能譜儀聯用分析表面元素。

FTIR測試（顯微傅里葉紅外光譜儀）

顯微紅外（FTIR） 紅外線吸收分子群在污染物分析中識別有機化合物的分子結構，主要用來表征共價鍵、從而推測出材料的官能團，再推算出材料成分，適合于有機物的表征，例如常見的塑料、橡膠、溶劑等，為什么適合呢，因為常見的塑料和橡膠的種類有限，加起來也差不多一百多種。對于常見的材料用FTIR是一種比較有效的手段，對于不常見的材料可以通過表征官能團獲取更多的信息，雖不能馬上解決問題，但是可以提供解決問題的思路和方向。

Nicolet iN10 MX 顯微紅外成像光譜儀操作簡便，可以快速采集、分析化學圖像，加深使用者對多相樣品中的材料化學物質分布的理解。

SEM/EDS測試（掃描電鏡能譜儀）

掃描電子顯微鏡（SEM）通過高辨析率成像可以觀察樣品大小0.5 - 3 μm

X射線能譜儀（EDS）可以在小面積上的成像與元素組成，缺陷處元素的識別/繪圖，顆粒分析（>300nm）

主要用來檢測異物的元素組成，檢測元素范圍是B-U。對于目前有的元素檢測手段是非常的廣了，先說說SEM/EDS的優勢，可以表征顆粒比較小的樣品。毫米級、納米級別。測量速度快，前處理簡單，時效性好。

利用 SEM 觀察窗口上配置的全域 / 區域面分布圖圖標能獲取整個觀察區域或指定區域的元素面分布圖。可利用數據管理軟件 SMILE VIEWTM Lab 對采集的數據（如用譜圖、元素面分布圖、線分析對元素的再指定等）進行各種分析。